布鲁克 MULTIMODE8 原子力显微镜探针选择与成像维护

MULTIMODE8 是什么、有哪些用途？

MULTIMODE8 由布鲁克（Bruker）生产，是一台高分辨原子力显微镜，简称 AFM。它通过微悬臂探针与样品表面的相互作用力获取形貌与多种物理性质，可在纳米尺度表征材料、半导体与生物样品的表面结构、粗糙度、力学与电学特征。常见模式包括接触模式、轻敲模式与各类特种成像。具体探针选择、扫描参数与成像模式须以原厂说明书为准。

MULTIMODE8 常见故障如何排查？

• 图像模糊或无信号：多为激光对中偏移、光电探测器未调平衡，或探针破损、探针与样品接触力过大。应重新对光、更换探针并调整反馈。
• 噪声大或漂移明显：检查隔振台状态、环境温湿度与样品固定，排除空气流动与振动干扰。
• 扫描线呈锯齿或台阶：多为扫描器校准偏移或反馈增益不合适，应调整增益并做扫描器校准。
• 软件与控制器通信异常：按原厂指引重启控制器与软件，检查连接线缆与接口。
• 探针无法起振：核对轻敲模式驱动频率与探针谐振，避免频率偏离过远。

日常如何维护保养？

• 探针存放在干燥防尘环境，使用前检查悬臂完整性，按寿命更换。
• 保持激光窗口与光学部件清洁，避免灰尘影响信号。
• 检查隔振台水平与气浮状态，确保环境低振动。
• 控制实验室温湿度与洁净度，减少样品污染与热漂移。
• 按周期对扫描器做校准，留存校准与维护记录。

使用有哪些注意事项？

MULTIMODE8 的操作须以原厂说明书为准，不臆造分辨率或力学参数。探针尖极为精细，取放与更换应轻缓，避免碰撞；样品须牢固固定并接地，防止静电损伤。高倍扫描对环境敏感，应在隔振、防尘、温湿度稳定的条件下进行，并在每次测试前完成对光与探针检查。

常见问题

问：MULTIMODE8 轻敲模式图像出现条纹噪声怎么处理？

答：条纹多来自隔振不足或驱动频率偏离探针谐振。应确认隔振台气浮正常、环境无强振动，并将驱动频率调至探针谐振峰附近，同时适当降低扫描速度以提高稳定性。

问：MULTIMODE8 接触模式容易划伤软样品怎么办？

答：软样品宜改用轻敲模式以降低横向力，或降低接触模式设定力与扫描速度；同时确保探针状态良好、样品固定稳固，并在测试前用小范围预扫确定合适力参数。

— 本文由仪服通（成都）科技有限公司技术服务团队整理，供实验室仪器管理参考。如需具体仪器的维修、搬迁、培训或 3Q 认证服务，欢迎联系我们。—

本页面最后更新：2026-10-25　·　内容仅描述通用做法，具体参数请以仪器原厂说明书与现行有效版本的国家/行业标准为准。